NanoFlip

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產品描述

NanoFlip提供高精度XYZ位移,可定位樣品進行測試,還提供翻轉機制,可定位樣品進行成像。InView軟件附帶一套測試方法,涵蓋一系列測試協議,并允許用戶創建自己的新穎測試方法。InForce50驅動器在真空和常壓條件下表現同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像,并與機械測試數據進行同步。創新的FIB-to-Test技術允許樣品傾斜90°,無需移除樣品即可實現從FIB到壓痕測試的無縫過渡。

InForce 50 actuator

主要功能

  • 1.InForce 50驅動器,用于電容位移測量,并配有電磁啟動的可互換探頭
  • 2.InQuest高速控制器電子設備,具有100kHz數據采集速率和20μs時間常數
  • 3.用于樣本定位的XYZ移動系統
  • 4.SEM視頻捕獲,可以將SEM圖像和測試數據進行同步
  • 5.獨特的軟件集成壓頭校準系統,可實現快速,準確的壓頭校準
  • 6.與Windows®10兼容的InView控制和數據查看軟件以及協助用戶設計實驗的方法開發功能
Continuous stiffness measurement

主要應用

  • 1.硬度和模量測量(Oliver-Pharr)
  • 2.連續剛度測量
  • 3.高速材料性質分布圖
  • 4.ISO 14577硬度測試
  • 5.聚合物的納米動態力學分析(DMA)
  • 6.定量刮擦和磨損測試
Batteries and energy storage

工業應用

  • 1.大學、研究實驗室和研究所
  • 2.支柱和微球制造
  • 3.MEMS(微機電系統)
  • 4.材料制造(結構壓縮/拉伸/斷裂測試)
  • 5.電池和元件制造
NanoFlip hardness              measurement

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