T150 UTM拉伸測量儀

T150 UTM拉伸測量儀能夠測量材料的應變率敏感度對時間的響應。 它采用電磁傳感器產生拉力(形成樣品上的負載),并結合精確的電容傳感,在很大的應變范圍內提供高靈敏度測量。 它還允許用戶使用動態表征模式研究生物材料的張力/壓縮特性,該模式能精確測量每一個測試點。

InSEM HT高溫測試系統

InSEM?HT(高溫)通過在真空環境中分別獨立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)工作室,或獨立的真空工作室兼容。 配有的InView軟件可幫助高級研究人員開發新的實驗??茖W出版文獻表明,InSEM HT結果與傳統的大規模高溫測試數據匹配良好。測試溫度范圍寬以及擁有成本低的特點使InSEM HT成為材料開發研究計劃中很有價值的設備。

NanoFlip

NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強度、剛度和其他納米力學測試進行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)系統中,NanoFlip在測試(例如柱壓縮)方面表現優異,可以將SEM圖像與機械測試數據同步。NanoFlip測量迅速,這對于惰性環境(例如手套箱)中測試異質材料很關鍵。系統所配置的可選套件,例如InForce50電磁驅動器,可以提供定量結果,從而為材料研究提供有價值的解決方案。

iNano納米壓痕儀

iNano?納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。 該儀器的力荷載和位移測量動態范圍很大,因而可以實現從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復測試。 模塊化選項適用于各種應用:材料性質分布、特定頻率測試、刮擦和磨損以及高溫測試。 iNano提供了一整套測試擴展選項,包括樣品加熱、連續剛度測量、NanoBlitz3D/4D屬性映射和遠程視頻選項。

iMicro納米壓痕儀

iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬涂層,薄膜和少量材料。該儀器準確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。 可互換的驅動器能夠提供大動態范圍的力荷載和位移,使研究人員能夠對軟聚合物到硬質金屬和陶瓷等材料做出精確及可重復的測試。模塊化選項適用于各種應用:材料性質分布、特定頻率測試、刮擦和磨損測試以及高溫測試。 iMicro擁有一整套測試擴展的選項,包括樣品加熱、連續剛度測量、NanoBlitz3D / 4D性質分布,以及Gemini 2D力荷載傳感器,可以提供摩擦和其他雙軸測量。

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